HORIBA堀場Nanolog模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀

HORIBA堀場Nanolog模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索

HORIBA堀場Nanolog模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀


代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風速計、流量計等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)   、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優勢品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品


模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀

我們的模塊化科研級Nanolog穩瞬態熒光光譜儀是專門為納米技術和納米材料的研究而設計的。

Nanolog?系列熒光光譜儀是專門為納米技術和納米材料等前沿研究而設計的??蓪崿F幾毫秒內獲得完整光譜,幾秒內獲得而完整的激發發射三維矩陣。

基于世界公認的Fluorolog?技術,Nanolog?除可實現紫外和可見光區域內熒光檢測外,也可在800-1700nm的近紅外范圍內檢測熒光信號(可選擇多通道檢測至2um,單通道檢測至3um。Nanolog?配有專門設計的軟件Nanosizer,是對SWNTs、量子點等納秒材料進行分類和能量傳遞計算的理想選擇。

技術特點

  • 超快三維光譜采集速度(在幾秒鐘內即可快速完成激發-發射矩陣掃描)

  • 陣列InGaAs檢測器具有近紅外高靈敏度

  • 高分辨率

  • 實現SWNTs種類和系列的鑒定和量化分析

  • 兼容從紫外到近紅外等各種檢測器

  • 光電倍增管可現在最高靈敏度和時間分辨分析

  • CCD和陣列InGaAs檢測器可實現數據快速采集

  • 量子點混合物能量傳遞實驗研究

  • 模塊化設計

  • 450 W 連續氙燈,用于從紫外到近紅外區域激發

  • 幾秒鐘完成激發-發射三維矩陣掃描

  • InGaAs陣列檢測器。800-1700nm;256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式,間距小至25 μm;噪聲低至650 erms,液氮制冷以獲得最佳信噪比;可選擇電制冷;擴展檢測范圍選項(1.1 - 2.2 μm)。

  • iHR320成像光譜儀:焦距=320mm;f/4.1;色散=2.31nm/mm;分辨率=0.06nm(帶狹縫);軟件控制的三層光柵塔輪(所有測量均采用1200 grove/mm的光柵

  • 可提供固態近紅外檢測器,紫外到近紅外的光電倍增管,時間相關單光子計數的壽命測試(100ps到1ms,紫外到近紅外),門控技術的壽命測試(1μs到>10s,紫外到近紅外),以及頻域壽命測量(10ps到10μs,紫外到近紅外)。


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