日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代

日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源

日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代


代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風速計、流量計等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)   、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優勢品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品


熒光及吸收光譜儀

Duetta? 熒光光譜儀同時結合了熒光光譜儀和吸收光譜儀的功能。它標配超快先進的 CCD 技術,能在 100 毫秒內獲得 250 nm-1100 nm的全范圍光譜,讓它的采集速度數倍優于其他使用 PMT 的熒光光譜儀。

一個更佳的光譜儀理念

熒光的未來

  • 同步吸收 - 熒光光譜儀

  • UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍 250 nm-1100 nm

  • 一秒內獲取三維熒光全譜

  • 高熒光靈敏度,水拉曼 RMS 6000:1

  • 自動校準主次內濾效應

  • 先進的 A-TEEM ? 指紋熒光技術,高保真識別分子指紋

  • CCD 檢測器實現毫秒內完成整個熒光光譜采集

 

熒光及吸收合二為一的光譜儀 !

Duetta 可作為熒光光譜儀使用,也可以作為 UV-Vis-NIR 光譜儀 測量吸光度,或用于測量真實的分子指紋,這需要同步獲取 熒光和吸光度,同時進行內濾效應校正。
 

瞬間獲得熒光光譜!

Duetta 標配超快先進的 CCD 技術,讓它在采集速度的數倍優于任何使用 PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是少見的能在 100 毫秒內 獲得 250 nm-1100 nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一先進的 CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到 1100 nm, 遠超過標準 PMT 熒光儀的光譜范圍。
 

高靈敏度

經過優化設計的 Duetta,擁有高水平的靈敏度,意味著可測更低濃度的樣品,并提供更準確的數據
 

EzSpec? 觸屏操作軟件!

Duetta 使用 HORIBA 新一代 EzSpec 軟件,使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代,生動立體的人機互動,量身定制的用戶體驗;升級常規分析用軟件模塊,可具有定制化、個性化分析測試。
 

全新光譜儀設計

塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司

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